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泰勒霍普森粗糙度仪Surtronic S116|泰勒的详细资料:

泰勒霍普森粗糙度仪Surtronic S116|泰勒

泰勒粗糙度仪Surtronic S116测量参数

SURTRONIC S116 粗糙度仪

一、S116标准配置:

显示单元;112-1502标准测针;测针连接线;多刻线样板;测针提升机构;USB接口充电器;使用手册;USB通讯电缆;仪器箱

二、技术参数

数据显示 :

显示屏每页显示7个测试结果,屏幕上可显示轮廓图(剖面图)

可以打印测试结果和图形

使用Talyprofile软件可以连接电脑,分析测试结果

数据存储:

仪器可以存储100个测试数据和一个图形

仪器支持U盘大4G,多可存储39,000个图形,每批可存储10万个测试结果,共70批数据。

使用Talyprofile软件与电脑连接可以存储无限数据。

电源:

充电器 :USB接口5v 1A 110-240VAC 50/60Hz

充电时间:4小时

电池寿命:充电一次可以做2000次测试

待机时间:5000小时

由待机状态到开机测试状态,长时间不超过1秒I

自动关机:30秒– 6小时可以自行设置

三、技术指标:

测量范围:200 um 100 um 10 um

分辨率:  100 nm 20 nm 10 nm

底噪(Ra):250 nm 150 nm 100 nm

重复精度 (Ra) :1%测试值+底噪

传感器原:电感

测量力:150-300mg

测针针尖半径:标配5 μm (200 μin) 可选2μm(80μin)或10μm(400μin)

测试方式:滑动扫描

校准:

自动软件校准    标准:ISO4287

四、测试参数:

三个取样长度:0.25mm、0.8mm、2.5mm

二个滤波器:2CR、Gaussian

评定长度:0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可选

大行程:17.5mm

测试速度:

测试速度:1mm/sec(0.04 in/sec)

回程速度:1.5mm/sec(0.06in/sec)

测试参数:

执行标准:ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007

ISO标准可以测量12个参数: Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max

ASME标准可以测量11个参数:Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda

JIS标准可以测量14个参数:Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc

其他 :R3z (Daimler Benz)

测试单位:um/uin

五、可选附件

测试平台:

00级大理石平板:400X250X70mm

有效高度:280mm。

可调Y轴V型铁

可调范围:±5mm

V型铁长度100mm

SURTRONIC S116比SURTRONIC 25有如下改进:

1、电池由碱性9V改为锂电充电电池;

2、显示屏为触摸屏;

3、可以显示测试图形;

4、SURTRONIC 25只能测试10个参数,S116在不同标准下可以测量12、11、14个参数(见技术参数);

5、原来SURTRONIC 25使用电位器校准测试结果,现在改为自动软件校准。方便使用;

6、显示屏显示的结果(数据和图形)可以旋转,可以方便的从四个方向观察测试结果;

7、仪器底部为V形,测试轴类部件方便可靠;

8、测试数据存储增加了存储图形功能;

9、可以使用U盘直接存储,一个4G容量U盘可存储3.9万个图形,数据可以存储70批次,每批次为10万个测试数据。

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